东莞某企业-IC测试分选方案
来源：本站 时间：2020/3/26 17:20:06 次数：
IC测试一般分为物理性外观测试（Visual Inspecting Test），IC功能测试（Functional Test）,化学腐蚀开盖测试（De-Capsulation），可焊性测试（Solderbility Test），直流参数（电性能）测试（Electrical Test）, 不损伤内部连线测试（X-Ray），放射线物质环保标准测试（Rohs）以及失效分析（FA）验证测试。
图一：客户现场
图二: 客户现场
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